电子探针微区分析（EPMA）可对金属材料进行微区成分和结构分析。它利用聚焦的高能电子束轰击金属样品表面，激发样品发出特征 X 射线、二次电子等信号。通过检测特征 X 射线的波长和强度，能精确分析微区内元素的种类和含量，其空间分辨率可达微米级。同时，结合二次电子成像，可观察微区的微观形貌和组织结构。在金属材料的失效分析中，EPMA 发挥着重要作用。例如，当金属零部件出现局部腐蚀或断裂时，通过 EPMA 对失效部位的微区进行分析，可确定腐蚀产物的成分、微区的元素分布以及组织结构变化，从而找出导致失效的根本原因，为改进材料设计和加工工艺提供有力依据，提高产品的质量和可靠性。

扫描开尔文探针力显微镜（SKPFM）可用于检测金属材料的表面电位分布，这对于研究材料的腐蚀倾向、表面电荷分布以及涂层完整性等具有重要意义。通过将一个微小的探针在金属材料表面上方扫描，利用探针与表面之间的静电相互作用，测量表面电位的变化。在金属材料的腐蚀防护研究中，SKPFM 能够检测出表面不同区域的电位差异，从而判断材料表面是否存在腐蚀活性点，评估涂层对金属基体的防护效果。例如在海洋工程中，对于长期浸泡在海水中的金属结构，利用 SKPFM 监测表面电位变化，可及时发现涂层破损或腐蚀隐患，采取相应的防护措施，延长金属结构的使用寿命。

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